实际检测中，检测面积大的工件时，为了提高检测效率宜采用小晶片探头。

一般根据工件的形状和可能出现缺陷的部位、方向等条件来选择探头的型式，使声束轴线尽量与缺陷平行。

判断题一般根据工件的形状和可能出现缺陷的部位、方向等条件来选择探头的型式，使声束轴线尽量与缺陷平行。

探头的选择包括探头的型式、频率、晶片尺寸、灵敏度余量和斜探头K值等。

判断题探头的选择包括探头的型式、频率、晶片尺寸、灵敏度余量和斜探头K值等。

超声检测前应根据被检对象的形状、对超声波的衰减和检测技术要求等来选择探头。

判断题超声检测前应根据被检对象的形状、对超声波的衰减和检测技术要求等来选择探头。