单项选择题
A.抑制干扰信号 B.减少放大器放大倍数 C.抵消检测线圈零电势 D.都不是
单晶片直探头接触法探伤中,与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为()。A.近场干扰B.材质衰减C.盲...
单项选择题单晶片直探头接触法探伤中,与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为()。
A.近场干扰 B.材质衰减 C.盲区 D.选择范围
调制分析能适用于探头和试件相对()的监测。A.运动B.静止C.两者都可以D.都不可以
单项选择题调制分析能适用于探头和试件相对()的监测。
A.运动 B.静止 C.两者都可以 D.都不可以
从电导率变化的信号中分离出裂纹信号应采用()。A.高通滤波器B.低通滤波器C.宽带滤波器D.都不是
单项选择题从电导率变化的信号中分离出裂纹信号应采用()。
A.高通滤波器 B.低通滤波器 C.宽带滤波器 D.都不是