判断题
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电子设备内部干扰的产生与电子设备或系统的结构及制造工艺有关。
判断题电子设备内部干扰的产生与电子设备或系统的结构及制造工艺有关。
电子设备外部干扰的产生与电子设备或系统本身的结构以及外部环境因素有关。
判断题电子设备外部干扰的产生与电子设备或系统本身的结构以及外部环境因素有关。
容量为600—4000kV²A的装置一般采用GTO晶闸管,而容量为4000kV²A以上的装置才采用普通晶闸管。
判断题容量为600—4000kV²A的装置一般采用GTO晶闸管,而容量为4000kV²A以上的装置才采用普通晶闸管。