（）是目前国内最常用的判断半导体导电类型的方法。

（）是半导体中最主要的缺陷，它属于线缺陷。A.杂质沉淀B.位错C.层错D.空位

单项选择题（）是半导体中最主要的缺陷，它属于线缺陷。

（）对半导体单晶电化学腐蚀速度的影响最大。A.缓冲剂B.腐蚀液的成分C.电极电位D.腐蚀处理的温度和搅拌

单项选择题（）对半导体单晶电化学腐蚀速度的影响最大。