MRI 法与MT—RC 法相比其对比度大，灵敏度较高，工艺较易控制，可靠性高。

标准试块主要用于检验磁粉探伤灵敏度，考察被检工件表面的磁场方向。

判断题标准试块主要用于检验磁粉探伤灵敏度，考察被检工件表面的磁场方向。

整流电流中包含的交流分量愈大，检测近表面缺陷的能力愈小。

判断题整流电流中包含的交流分量愈大，检测近表面缺陷的能力愈小。

退磁场大小与工件形状有关，与外加磁场无关。

判断题退磁场大小与工件形状有关，与外加磁场无关。