填空题
与门、或门、禁门
研究产品失效的两种常用方法()
填空题研究产品失效的两种常用方法()
为简化故障树,可将逻辑门之间的中间事件省略。
判断题为简化故障树,可将逻辑门之间的中间事件省略。
产品的故障密度函数反映了产品的故障强度。
判断题产品的故障密度函数反映了产品的故障强度。