当待修仪器设备缺少技术资料时，通常可采用（）和（）的检查方法以判定故障部位。

当仪器设备出现异常时，通常应首先检查（）部分并加以排除。

填空题当仪器设备出现异常时，通常应首先检查（）部分并加以排除。

测试设备发生故障的原因通常有：（）；（）；（）；（）；（）；（）；以及由于（）等。

填空题测试设备发生故障的原因通常有：（）；（）；（）；（）；（）；（）；以及由于（）等。

目前，具有代表性的高性能新型微处理器的工作电压都已从（）V降到了（）V左右。

填空题目前，具有代表性的高性能新型微处理器的工作电压都已从（）V降到了（）V左右。