单项选择题
A.会增加受控开关B.边延迟的变化与迭代次数(编号l )有关C.边的延迟变化:DF(U→V)=Nw(e)-Pu+v-uD.折叠延时表示中间结果必须存储的时间
下面这副DFG的关键路径为()。A.TA2+TC2+TB1+TA0+TC0+TB2B.TA2+TC2+TB1+...
下面这副DFG的关键路径为()。
A.TA2+TC2+TB1+TA0+TC0+TB2B.TA2+TC2+TB1+TC0+TA0C.TA2+TC2+TB1+TA0+TC0+TB2+TA1D.TA2+TB0
下图的关键路径为(),进行3阶展开后关键路径为()。A.1u.t.,2u.t.B.1u.t.,3u.t.C....
下图的关键路径为(),进行3阶展开后关键路径为()。
A.1u.t.,2u.t.B.1u.t.,3u.t.C.2u.t ,1u.t.D.2u.t.,3u.t.
对如下电路采用2倍降速的割集重定时后,以下哪些说法是正确的?()A.关键路径长度不变B.迭代周期不变C.采样率...
对如下电路采用2倍降速的割集重定时后,以下哪些说法是正确的?()
A.关键路径长度不变B.迭代周期不变C.采样率不变D.时钟周期不变