‌XPS可分析的元素为（）。

原子力显微镜观察对试样的导电性（）。A.必须为导电体B.必须为绝缘体C.无要求D.必须为半导体

单项选择题原子力显微镜观察对试样的导电性（）。

‎AFM有多种工作模式，不属于其的工作模式是（）。A.接触模式B.非接触模式C.轻敲模式D.衍射模式

单项选择题‎AFM有多种工作模式，不属于其的工作模式是（）。

‏STM可用于表面（）。A.形貌演变研究B.成分定性研究C.成分定量研究D.衍射研究

单项选择题‏STM可用于表面（）。