单项选择题
A.除薄层耦合剂外不再有其他介质的情形B.用一定厚度的液体作为耦合剂的检测方法C.直接接触的检测方法
（）可以检测出与探测面垂直的横向缺陷。A.K式检测B.并列式检测C.串列式检测D.交叉式检测
单项选择题（）可以检测出与探测面垂直的横向缺陷。
A.K式检测B.并列式检测C.串列式检测D.交叉式检测
（）可以检测出与探测面相垂直的面状缺陷。A.单探头法B.并列式检测C.串列式检测D.交叉式检测
单项选择题（）可以检测出与探测面相垂直的面状缺陷。
A.单探头法B.并列式检测C.串列式检测D.交叉式检测
单探头法容易检出（）。A.与探测面成某一角度的缺陷B.与波束轴线垂直的片状缺陷和立体状缺陷C.与探测面相垂直的...
单项选择题单探头法容易检出（）。
A.与探测面成某一角度的缺陷B.与波束轴线垂直的片状缺陷和立体状缺陷C.与探测面相垂直的面状缺陷D.与探测面垂直的横向缺陷
