单项选择题
A.全面扫查 B.格子线扫查 C.边缘扫查 D.以上都可以
双晶片直探头适用于检查（）A.饼类锻件B.环类锻件C.中厚板D.以上都可以
单项选择题双晶片直探头适用于检查（）
A.饼类锻件 B.环类锻件 C.中厚板 D.以上都可以
下列哪种方法最适合探测厚板（）A.接触法垂直入射B.水浸法垂直入射C.接触法斜入射D.水浸法斜入射
单项选择题下列哪种方法最适合探测厚板（）
A.接触法垂直入射 B.水浸法垂直入射 C.接触法斜入射 D.水浸法斜入射
探测环类锻件时，常采用下列哪种人工反射体来调整灵敏度（）A.平底孔B.V型或矩形槽C.横孔D.A和B
单项选择题探测环类锻件时，常采用下列哪种人工反射体来调整灵敏度（）
A.平底孔 B.V型或矩形槽 C.横孔 D.A和B
