检定千分尺微分筒锥面端面棱边上边缘至固定套管纵刻线表面的距离，应至少使微分筒转动一周内不少于三个位置上进行。

在光学计或测长机上测量平工作面量杆时应采用球面测帽。如果是测量球工作面量杆，则应采用平面测帽进行。

判断题在光学计或测长机上测量平工作面量杆时应采用球面测帽。如果是测量球工作面量杆，则应采用平面测帽进行。

内径千分尺测微头的示值变化是以同一受检点在微分筒紧固和松开两种情况下测得的差值确定。

判断题内径千分尺测微头的示值变化是以同一受检点在微分筒紧固和松开两种情况下测得的差值确定。

测量上限至100mm的千分尺两测量面的平行度，可以用间隔为1/4螺距的四组4等量块进行检定。

判断题测量上限至100mm的千分尺两测量面的平行度，可以用间隔为1/4螺距的四组4等量块进行检定。