简答题 试编程：将ROM中以TAB为初址的32个单元的内容依次传送到片外RAM以00H为初址的区域去。

试编程：将ROM中自2000H单元起的100个数，按序移至片外RAM自2080H单元起的内存区间去。

问答题试编程：将ROM中自2000H单元起的100个数，按序移至片外RAM自2080H单元起的内存区间去。

试编程：统计从片内RAM60H单元起所存60个数中“0”的个数，并存入工作寄存器R7。

问答题试编程：统计从片内RAM60H单元起所存60个数中“0”的个数，并存入工作寄存器R7。

试编程：将片内RAM60H～69H单元中的十个数相加，和的低8位存入7EH，高8位存入7FH。

问答题试编程：将片内RAM60H～69H单元中的十个数相加，和的低8位存入7EH，高8位存入7FH。