对于上照式X射线荧光光谱仪，为了防止样品掉落在仪器内，有时需要在其滤膜样品表面覆盖一层XRF专用聚丙烯膜保护仪器。

滤膜上颗粒物含量足够低时，使用X射线荧光光谱法分析其元素含量可以不考虑谱线重叠干扰。

判断题滤膜上颗粒物含量足够低时，使用X射线荧光光谱法分析其元素含量可以不考虑谱线重叠干扰。

与轻元素相比，使用X射线荧光光谱法测定重元素时，一般选择更高的X射线管电压。

判断题与轻元素相比，使用X射线荧光光谱法测定重元素时，一般选择更高的X射线管电压。

在X荧光光谱分析中，试样制备要解决的问题就是保证实际被分析的较薄的表层能够真正代表整个样品。

判断题在X荧光光谱分析中，试样制备要解决的问题就是保证实际被分析的较薄的表层能够真正代表整个样品。