185”一个像素的CF ITO和TFT ITO被导通会形成（）不良。

Cell检测工位（）行为是被允许的。A.用手对Block进行调整B.进入设备调试界面C.对Panel亮线进行S...

单项选择题Cell检测工位（）行为是被允许的。

Cell Test工位每个Index有（）Port。A.8B.4C.2D.10

单项选择题Cell Test工位每个Index有（）Port。

以下（）不良一次测试时不进行维修。A.一个亮点B.DGSC.DOD.X Line

单项选择题以下（）不良一次测试时不进行维修。