单项选择题

STEM用电子束在样品的表面扫描进行微观形貌分析时,探测器置于

A、试样左上方,接受背散射电子束流荧光成像
B、试样下方,接受透射电子束流荧光成像
C、试样右上方,接受背散射电子束流荧光成像
D、试样正上方,接受反射电子束流荧光成像