单项选择题
A.XRDB.EDSC.TEMD.AES
A.直接晶体的三维取向信息B.可以方便地获得样品的宏观织构C.利用取向数据集,可以计算出极图、反极图、取向分布函数D.如果样品织构相对均匀,EBSD所得织构信息接近于X射线衍射的结果
A.分析样品面积大,数据统计性B.分析精度高,检测速度快C.样品制备简单D.空间分辨高
A.机械抛光B.电解抛光C.离子研磨
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