单项选择题
A.工作频率 B.晶片尺寸 C.探测深度 D.近场长度
A.探测范围大 B.盲区小 C.工件中近场长度小 D.杂波少
A.检测精度高，定位定量准 B.频带宽，脉冲窄 C.可记录存储信号 D.仪器有计算和自检功能
A.透声性能好 B.材质衰减小 C.有利消除耦合差异 D.以上全部
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