TOFD技术测量埋藏缺陷长度的精度（）

A.随着深度的增加而提高
B.随着探头中心间距减小而提高
C.随着脉冲宽度的减小而提高
D.以上都对

A.为减小测量缺陷信号与测量误差，必须仔细测量出所使用的耦合剂厚度
B.如果测量缺陷信号与直通波到达时间之差，则耦合剂引起的缺陷深度测量误差很小
C.如果测量缺陷信号到达的绝对时间，则耦合剂引起的测量误差很小
D.以上叙述都是错误的

A.用高精度的长度尺反复测量
B.用专用的激光测距仪反复测量
C.测量标准试块上不同深度反射体的信号到达时间
D.测量直通波或者底面波信号尖端信号到达的时间