单项选择题
A.缺陷检出能力 B.材料衰减 C.指向性 D.分辨率 E.以上都是
A.高频率、横波 B.较低频率、横波 C.高频率、纵波 D.较低频率、纵波
A.工作频率 B.探头和仪器参数 C.耦合条件与状态 D.探测面 E.以上都是
A.瑞利波法 B.斜射法 C.双探头法 D.垂直法
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