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全部科目 > 大学试题 > 工学 > 电子与通信技术 > 半导体集成电路

问答题

简答题

列出氧化硅的五种主要物理参数,并说明实际中如何测试氧化层厚度。

【参考答案】

密度,折射率,电阻率,介电强度,(相对)介电常数。
实际中可用折射率,介质强度和介电常数来测量。

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