单项选择题
A.对晶片振动起阻尼作用 B.吸收晶片背面发出的杂波 C.对晶片起支撑作用 D.以上都是
A.纵波直探头用于检测与检测面垂直的缺陷 B.横波斜探头用于检测与检测面倾斜的缺陷 C.表面波探头用于检测表面和近表面缺陷 D.兰姆波探头用于检测薄板中的缺陷
A.导电材料 B.磁致伸缩材料 C.压电材料 D.磁性材料
A.深度范围 B.深度细调 C.延迟或水平 D.以上都是
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