下列（）不符合检测规程的特点。

A.相关的质量标准
B.材料或产品的技术条件
C.合同条款或技术协议内容
D.对比试样上的人工缺陷的最小尺寸

A.用于校准仪器的基体的电导率应与被检测对象的电导率相一致性。
B.用于校准仪器的基体的磁导率应与被检测对象的磁导率相一致性。
C.用于校准仪器的标准厚度膜片的厚度值与实际被测量膜层厚度的相同。
D.尽可能选择两个厚度值覆盖被测量膜厚度变化范围的标准膜片校准仪器。

A.缺陷形式
B.加工部件及大小
C.检测要求和涡流检测能力
D.检测效率