欢迎来到牛牛题库网
牛牛题库官网
登录
注册
首页
经济师考试
会计职称考试
统计师考试
审计师考试
保险考试
全部科目
>
大学试题
>
理学
>
材料科学
>
材料分析测试技术
搜题找答案
判断题
用背散射电子进行形貌分析时，其分辨率远比二次电子像低。
【参考答案】
正确
(↓↓↓ 点击‘点击查看答案’看答案解析 ↓↓↓)
点击查看答案&解析
上一题
目录
下一题
相关考题
判断题
材料吸收电子和吸收光子不同，吸收电子时，入射电子停止运动，停留在材料内部。
判断题
二次电子像的衬度是最典型的形貌衬度。
判断题
能谱仪通过接收元素的特征X射线进行成分分析，因此可以利用其确定材料中氢元素和锂元素的含量。
关注
顶部
微信扫一扫,加关注免费搜题
