多项选择题
在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。
A.均匀性
B.粒度效应
C.辐射
D.吸收-增强效应
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多项选择题
A.均匀性
B.粒度效应
C.辐射
D.吸收-增强效应
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