问答题
案例分析题试为下述分析工作选择你认为恰当的（一种或几种）分析方法
某半导体的表面能带结构测定。
【参考答案】
紫外光电子能谱（UPS），或X射线光电子能谱（XPS），或紫外可见吸收光谱（UV-VIS），最好是紫外光电子能谱（UPS......
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