晶体的性质包括下列哪几项（）

A.光学成像系统
B.电子系统
C.电气系统
D.减震系统

A.磁场分布是严格轴对称
B.满足旁轴条件
C.电子波的波长（速度）相同
D.电子波的波长不同

A.具有在极高放大倍率下直接观察试样的形貌、晶体结构和化学成分
B.为一种微区分析方法，具有很高的分辨率，成像分辨率达到0.2～0.3nm（TEM），可直接分辨原子，能进行纳米尺度的晶体结构及化学组成分析
C.各种仪器日益向多功能、综合性方向发展
D.操作复杂