多项选择题
用双晶探头检测时,为增加缺陷显现次数和反射幅度,检测细长缺陷应使探头()。
A.隔声层与缺陷延伸方向平行
B.隔声层与缺陷延伸方向垂直
C.垂直与缺陷延伸方向移动
D.平行与缺陷延伸方向移动
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多项选择题
A.隔声层与缺陷延伸方向平行
B.隔声层与缺陷延伸方向垂直
C.垂直与缺陷延伸方向移动
D.平行与缺陷延伸方向移动
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