单项选择题
A.温度 B.掺杂工艺 C.杂质浓度 D.晶体缺陷
A.两者都可以用来测量200MHz的信号 B.前者可以测量200MHz的信号，后者不可以 C.后者可以测量200MHz的信号，前者不可以 D.两者都不可以测量200MHz的信号
A.60MHz带宽示波器 B.100MHz带宽示波器 C.200MHz带宽示波器 D.50MHz带宽示波器
A.可以测量频率为100MHz以下的信号波形 B.可以完整显示频率为100MHz以上的信号波形 C.可以测量带宽为100MHz的信号波形 D.可以测量200MHz以下的信号波形
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