单项选择题
在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。
A.0.001mm
B.0.002mm
C.0.003mm
点击查看答案

单项选择题
A.0.001mm
B.0.002mm
C.0.003mm
微信扫一扫,加关注免费搜题