判断题
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A.只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析。B.只关心衍射斑点的位置，不关心强度。C.入射电子束、衍射电子束与产生衍射的晶面近乎平行。D.只能观察薄膜样品的结构，不能与形貌观察有机结合起来。
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