问答题
特征X射线谱可用于元素分析和电子探针X射线显微分析的依据。
A.没有溶剂和糊剂的干扰，不能一次完整的获得样品的红外吸收光谱 B.可以通过减小样品的粒度来减少散光。从而获得尖锐的吸收带 C.只要样品能变成细粉，并且加压下不发生结构变化，都可以用压片法进行测试 D.可用于定量分析，压成的薄片便于保存
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