用冷热探笔法测量导电类型时，热探笔的温度要适当，以（）为宜。

A.线缺陷
B.微缺陷
C.面缺陷
D.点缺陷

A.线密度
B.体密度
C.面密度
D.以上皆不是

A.整流效应
B.温差电效应
C.以上二种皆可
D.以上二种皆不可

A.四探针法
B.扩展电阻法
C.范德堡法
D.两探针法

A.整流效应
B.温差电效应
C.以上二种皆可
D.以上二种皆不可

A.弱酸弱碱
B.弱碱
C.弱酸
D.强酸强碱

A.杂质沉淀
B.线缺陷
C.面缺陷
D.点缺陷

A.多晶
B.非晶
C.单晶
D.以上皆不是

A.70%
B.30%
C.49%
D.36%

A.外来原子
B.填隙原子
C.空位
D.络合体

A.三探针法
B.单探针点接触整流法
C.冷热探笔法
D.冷探笔法

A.杂质沉淀
B.位错
C.层错
D.空位

A.缓冲剂
B.腐蚀液的成分
C.电极电位
D.腐蚀处理的温度和搅拌