测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度时，校准标准片可以有下述哪些形式？（）

A.对于薄的覆盖层，其测量准确度与覆盖层的厚度有关
B.对于厚的覆盖层，其测量准确度等于某一近似恒定的分数与厚度的乘积
C.基体金属的厚度小于仪器的基体金属临界厚度时，测量将不受基体金属厚度增加的影响
D.临界厚度取决于仪器测头和基体金属的性质

A.覆盖层厚度
B.基体金属的磁性
C.基体金属的厚度
D.基体金属的导电性

A.测试时，测点距构件边缘不宜小于50mm
B.测试时，测点距构件内转角处的距离不宜小于30mm
C.探头与测点表面接触时间宜保持1~2s
D.探头与测点表面应垂直接触