纯净的晶界也具有电活性，会影响多晶硅的电学性能。

PCD方法可用于测量（）。A.少子寿命B.电阻率C.曲翘度D.平整度

单项选择题PCD方法可用于测量（）。

最常用于测试半导体材料电阻率的方法是（）。A.四探针法B.范德堡法C.扩展电阻法D.两探针法

单项选择题最常用于测试半导体材料电阻率的方法是（）。

铸造多晶硅中的晶体掺杂可采用（）。A.BH3B.PH3C.BD.B2O3

单项选择题铸造多晶硅中的晶体掺杂可采用（）。