填空题
硅中的杂质浓度与SiO2中浓度出现差别的现象;小于;大于
Si衬底上热氧化的机理由()模型确定。氧化反应的快慢与三个因素有关,即:()。氧化层厚度的理论计算公式为:式中...
Si衬底上热氧化的机理由()模型确定。氧化反应的快慢与三个因素有关,即:()。氧化层厚度的理论计算公式为:式中A、B为与扩散率成正比的常数,τ为由()决定的时间修正系数。
由于O2在SiO2中的扩散率远()于Si 在SiO2中的扩散率,所以氧化反应是由O2穿过SiO2层,在()界面...
填空题由于O2在SiO2中的扩散率远()于Si 在SiO2中的扩散率,所以氧化反应是由O2穿过SiO2层,在()界面与Si原子反应。相同温度下,湿氧氧化速率()于干氧氧化速率,是因为在SiO2中,H2O比O2有更()的扩散率和溶解度。由于N2和Si在Si3N4中的扩散率都很(),所以很难在Si衬底上热生长Si3N4。通常在Si衬底上用()法沉积Si3N4薄膜。
扩散系统主要有以下四部分组成:()
填空题扩散系统主要有以下四部分组成:()