判断题
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多次底波法缺陷检出灵敏度低于缺陷回波法。
判断题多次底波法缺陷检出灵敏度低于缺陷回波法。
CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。
判断题CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。
标准试块的材质应尽可能与被检工件相同或相近。
判断题标准试块的材质应尽可能与被检工件相同或相近。