在一定的灵敏度下，以缺陷波高与缺陷处底波高之比来衡量缺陷的（）。

用垂直法定位工件中缺陷的水平位置就在探头的（）之下。A.入射点B.前沿C.后沿D.中间

单项选择题用垂直法定位工件中缺陷的水平位置就在探头的（）之下。

探伤中测定缺陷在工件中的（），称为定位。A.方向B.大小C.位置D.形状

单项选择题探伤中测定缺陷在工件中的（），称为定位。

双探头法中并列式扫查主要是用来发现与检测面（）的缺陷。A.垂直B.平行C.倾斜D.距离近

单项选择题双探头法中并列式扫查主要是用来发现与检测面（）的缺陷。