实际样品与标准样品受X射线照射的距离应保持一致，如果标准样品受X射线照射的距离小于实际样品受X射线照射的距离，那么实际样品测定结果会偏高。

对于上照式X射线荧光光谱仪，为了防止样品掉落在仪器内，有时需要在其滤膜样品表面覆盖一层XRF专用聚丙烯膜保护仪...

判断题对于上照式X射线荧光光谱仪，为了防止样品掉落在仪器内，有时需要在其滤膜样品表面覆盖一层XRF专用聚丙烯膜保护仪器。

滤膜上颗粒物含量足够低时，使用X射线荧光光谱法分析其元素含量可以不考虑谱线重叠干扰。

判断题滤膜上颗粒物含量足够低时，使用X射线荧光光谱法分析其元素含量可以不考虑谱线重叠干扰。

与轻元素相比，使用X射线荧光光谱法测定重元素时，一般选择更高的X射线管电压。

判断题与轻元素相比，使用X射线荧光光谱法测定重元素时，一般选择更高的X射线管电压。