探头晶片尺寸大，辐射的超声波能量（），探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围相对变小，发现远距离缺陷能力增强。

探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面探伤不利。A、增加B、减小C、不变

单项选择题探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面探伤不利。

双晶探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形

单项选择题双晶探头用于探测工件（）缺陷。

探伤仪主要指标中的动态范围和电路中的（）关联较大。A、电源部分B、显示部分C、接收部分D、发射部分

单项选择题探伤仪主要指标中的动态范围和电路中的（）关联较大。