测定仪器垂直线性和动态范围时，应将仪器的“抑制”和“深度补偿”旋钮置于关的位置。

与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。

判断题与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。

利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。

判断题利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。

软保护膜探头可减少粗糙表面对探伤的影响。

判断题软保护膜探头可减少粗糙表面对探伤的影响。