异质结是由至少两种不同禁带宽度的半导体相互接触而形成的。

XPS只能检测元素种类，无法标定元素含量。

判断题XPS只能检测元素种类，无法标定元素含量。

AFM通常用来观测样品表面形貌。

判断题AFM通常用来观测样品表面形貌。

TEM观测与SEM相同，对样品厚度没有要求。

判断题TEM观测与SEM相同，对样品厚度没有要求。