问答题
①点缺陷：晶体杂志原子挤压晶体结构引起的压力所致②位错：晶体生长条件、晶体内的晶格应力、制造过程中的物理损坏......
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说明工艺及产品趋势
问答题说明工艺及产品趋势
简述微电子工艺的特点
问答题简述微电子工艺的特点
解释集成度的概念并根据集成度将集成电路分类
问答题解释集成度的概念并根据集成度将集成电路分类
