探头晶片尺寸大时，近场的覆盖范围也大，晶片小时，近场的覆盖范围也小。但在远场处由于指向性的关系，大尺寸晶片的覆盖范围有可能小于尺寸晶片。

探头的选择主要是对晶片尺寸、角度、频率等几个方面选择。

判断题探头的选择主要是对晶片尺寸、角度、频率等几个方面选择。

检测条件有频率、探头、检测部位及其粗糙度、检测灵敏度。

判断题检测条件有频率、探头、检测部位及其粗糙度、检测灵敏度。

轴类锻件的超声检测应采用径向检验、轴向检验、斜探头周向检验、斜探头轴向检验。

判断题轴类锻件的超声检测应采用径向检验、轴向检验、斜探头周向检验、斜探头轴向检验。