判断题
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频率下限则由探伤灵敏度、脉冲高度及指向性决定。
判断题频率下限则由探伤灵敏度、脉冲高度及指向性决定。
表面波探头用于探测工件表面缺陷。
判断题表面波探头用于探测工件表面缺陷。
双晶探头用于探测工件近表面缺陷。
判断题双晶探头用于探测工件近表面缺陷。