半导体硅的常用液体试剂腐蚀剂中HCL的浓度大致为（）

（）是最简单的点缺陷。A.外来原子B.填隙原子C.空位D.络合体

单项选择题（）是最简单的点缺陷。

（）是目前国内最常用的判断半导体导电类型的方法。A.三探针法B.单探针点接触整流法C.冷热探笔法D.冷探笔法

单项选择题（）是目前国内最常用的判断半导体导电类型的方法。

（）是半导体中最主要的缺陷，它属于线缺陷。A.杂质沉淀B.位错C.层错D.空位

单项选择题（）是半导体中最主要的缺陷，它属于线缺陷。