单项选择题
A.点缺陷 B.层错 C.杂质沉淀 D.位错
半导体晶体缺陷中的宏观缺陷主要有（）A.星型结构B.杂质析出C.系属结构D.点缺陷
多项选择题半导体晶体缺陷中的宏观缺陷主要有（）
A.星型结构 B.杂质析出 C.系属结构 D.点缺陷
半导体硅的常用腐蚀剂主要有（）。A.Dash腐蚀液B.Shimmel腐蚀液C.Sirtl腐蚀液D.Wright...
多项选择题半导体硅的常用腐蚀剂主要有（）。
A.Dash腐蚀液 B.Shimmel腐蚀液 C.Sirtl腐蚀液 D.Wright腐蚀液
用冷热探笔法测量导电类型时，热探笔的温度要适当，以（）为宜。A.30～50℃B.40～60℃C.50～70℃D...
单项选择题用冷热探笔法测量导电类型时，热探笔的温度要适当，以（）为宜。
A.30～50℃ B.40～60℃ C.50～70℃ D.60～80℃
