单项选择题
A、探头效率 B、声耦合问题 C、检验装置的脉冲重复频率 D、阴极射线管荧光屏的余辉时间
靠近探头的长条形缺陷并不一定都能测到,因为()。A、声束扩散B、材质衰减C、仪器阻塞效应D、折射
单项选择题靠近探头的长条形缺陷并不一定都能测到,因为()。
A、声束扩散 B、材质衰减 C、仪器阻塞效应 D、折射
容易探测到的缺陷尺寸一般不小于()。A、波长的一半B、1个波长C、1/4波长D、若干波长
单项选择题容易探测到的缺陷尺寸一般不小于()。
A、波长的一半 B、1个波长 C、1/4波长 D、若干波长
锻件中缺陷的取向通常为()。A、杂乱 B、平行于晶粒流向 C、垂直于晶粒流向 D、与晶粒流向成45°角
单项选择题锻件中缺陷的取向通常为()。