千分表测砧与测微螺杆测量面的相对偏移的检定是在平板上用杠杆百分表进行，对于测量范围大于30mm的千分尺用百分表检定。

千分尺测微螺杆与测砧两轴线间偏差不能太大，否则会影响千分尺的准确度。

判断题千分尺测微螺杆与测砧两轴线间偏差不能太大，否则会影响千分尺的准确度。

检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。

判断题检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。

检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上检定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线...

判断题检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上检定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定。