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判断题
纯净的晶界也具有电活性，会影响多晶硅的电学性能。
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单项选择题
PCD方法可用于测量（）。
A.少子寿命
B.电阻率
C.曲翘度
D.平整度
单项选择题
最常用于测试半导体材料电阻率的方法是（）。
A.四探针法
B.范德堡法
C.扩展电阻法
D.两探针法
单项选择题
铸造多晶硅中的晶体掺杂可采用（）。
A.BH
3
B.PH
3
C.B
D.B
2
O
3
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